jun_code 2024. 11. 16. 20:59

Cleaning 공정

정의

  • Cleaning 공정을 통해 Wafer 위의 파티클, 유기오염물 및 금속불순물 등을 웨이퍼 손상 없이 제거
  • 종류 : Wet Cleanig / Dry Cleaning
  • Cleaning 이후 Dry System을 통해 건조 작업 진행

Wet Cleaning

  • RCA Cleaning : 과산화수소와 물을 근간으로한 Cleaning 공정으로 SC1(가벼운 유기물과 파티클 제거), SC2(Metal ; Cl 포함됨)가 있다
  • Piranha Cleaning : PR과 같은 Heavy 유기물질 제거에 사용한다
  • Nitride Strip : H3PO4로 Si3N4 Strip 하는 공정
  • HF/BHF Process : SiO2이나 BPSG Etch에 사용하고 온도에 영향이 크다

 

Dry Cleaning

  • Brush Scrubbing
  • Aerosol Cleaning
  • Laser Cleaning
  • O3 Cleaning(오존)

Dry System

  • Cleaning 공정 이후 건조 작업을 진행한다
  • Dry System 분류 : Spin Dryer, IPA Dryer, Marangoni Dryer
    • Spin Dryer : 저렴하다, Wafer가 깨질 수 있다, 단차로 인해 물반점이 생길 수 있다, 회전 중에 파티클 생성 가능성이 있다
    • IPA Dryer : Wafer가 일정 영역에만 있는 IPA Vapor Zone에서 DIW와 IPA가 치환된다 -> 이후 Cooling Zone에서 Wafer 표면에 있는 IPA가 휘발된다 => 파티클 발생 가능성이 없으며 물반점이 생기지 않는다
    • Marangoni Dryer : 물과 IPA의 표면장력으로 표면을 건조한다